Scanning Electron Microscope with EDS and CLS

Universitetet i Oslo, Det matematisk naturvitenskapelige fakultet

A user-friendly scanning electron microscope (SEM) to examine materials in the range of isolators, semiconductors and metals — typically semiconducting metal oxides, with both energy dispersive x-ray spectroscopy (EDS) and cathodoluminescence-spectroscopy (CLS) capabilities. The system will be operating in a clean room user facility with ISO 4 calssification. Option for an ion beam polisher for preparing samples for the SEM.

Frist

Fristen for mottak av tilbud var 2016-04-25. Anskaffelsen ble publisert 2016-03-16.

Hvem? Hva? Hvor?
Anskaffelseshistorikk
Dato Dokument
2016-03-16 Kunngjøring av konkurranse
Kunngjøring av konkurranse (2016-03-16)
Gjenstand
Anskaffelsens omfang
Tittel: Electron microscopes
Antall eller omfang:
A user-friendly scanning electron microscope (SEM) to examine materials in the range of isolators, semiconductors and metals — typically semiconducting metal oxides, with both energy dispersive x-ray spectroscopy (EDS) and cathodoluminescence-spectroscopy (CLS) capabilities.4 000 000
Vis mer
Totalverdi for anskaffelsen: 4 000 000 💰
Metadata for kunngjøring
Originalspråk: engelsk 🗣️
Dokumenttype: Kunngjøring av konkurranse
Kontraktens art: Varer
Forskrift: Det europeiske økonomiske samarbeidsområdet (EØS), med deltakelse av GPA-land
Felles innkjøpsordliste (CPV)
Kode: Elektronmikroskoper 📦

Prosedyre
Prosedyretype: Åpen anbudskonkurranse
Tilbudstype: Innlevering for alle delkontrakter
Tildelingskriterier
Det mest økonomisk fordelaktige tilbudet

Oppdragsgiver
Identitet
Land: Norge 🇳🇴
Type tildelende myndighet: Offentligrettslig organ
Navn på tildelende myndighet: Universitetet i Oslo, Det matematisk naturvitenskapelige fakultet
Postadresse: Postboks 1032 Blindern
Postnummer: 0315
Poststed: Oslo
Kontakt
E-post: innkjop@admin.uio.no 📧
Telefon: +47 22857092 📞

Referanse
Datoer
Sendt dato: 2016-03-16 📅
Innleveringsfrist: 2016-04-25 📅
Publiseringsdato: 2016-03-17 📅
Identifikatorer
Kunngjøringsnummer: 2016/S 054-091068
OJ-S-utgave: 54

Gjenstand
Anskaffelsens omfang
Kort beskrivelse:
A user-friendly scanning electron microscope (SEM) to examine materials in the range of isolators, semiconductors and metals — typically semiconducting metal oxides, with both energy dispersive x-ray spectroscopy (EDS) and cathodoluminescence-spectroscopy (CLS) capabilities. The system will be operating in a clean room user facility with ISO 4 calssification. Option for an ion beam polisher for preparing samples for the SEM.
Vis mer
Varianter vil bli akseptert
Antall eller omfang:
A user-friendly scanning electron microscope (SEM) to examine materials in the range of isolators, semiconductors and metals — typically semiconducting metal oxides, with both energy dispersive x-ray spectroscopy (EDS) and cathodoluminescence-spectroscopy (CLS) capabilities.
Vis mer
Referansenummer: 2016-3324
Utførelsessted
Hovedsted eller utførelsessted: Oslo.

Prosedyre
Tilbudets gyldighetsperiode: 003 måneder
Dato for åpning av tilbud: 2016-04-26 📅
Språk
Språk: engelsk 🗣️
Andre språk: Norwegian.

Oppdragsgiver
Identitet
Nasjonalt registreringsnummer: 971035854
Kontakt
Kontaktpunkt: Øivind Martinsen
Postadresse: Sem Sælands vei 24, Fysikkbygningen 2. et.
Kontaktpunkt: MN Fakultetsadministrasjonen
Telefon: +47 99707732 📞
E-post: innkjop-matnat@mn.uio.no 📧
URL for dokumenter: https://kgv.doffin.no/ctm/Supplier/Documents/Folder/141786 🌏

Referanse
Identifikatorer
Referansenummer tildelt av oppdragsgiver: 2016-3324
Kilde: OJS 2016/S 054-091068 (2016-03-16)