Scanning Electron Microscope with EDS and CLS

Universitetet i Oslo, Det matematisk naturvitenskapelige fakultet

A user-friendly scanning electron microscope (SEM) to examine materials in the range of isolators, semiconductors and metals — typically semiconducting metal oxides, with both energy dispersive x-ray spectroscopy (EDS) and cathodoluminescence-spectroscopy (CLS) capabilities. The system will be operating in a clean room user facility with ISO 4 calssification. Option for an ion beam polisher for preparing samples for the SEM.

Frist
Fristen for mottak av tilbud var 2016-04-25. Anskaffelsen ble publisert 2016-03-16.

Hvem?

Hva?

Hvor?

Anskaffelseshistorikk
Dato Dokument
2016-03-16 Kunngjøring av konkurranse
Kunngjøring av konkurranse (2016-03-16)
Gjenstand
Anskaffelsens omfang
Tittel: Electron microscopes
Antall eller omfang:
“A user-friendly scanning electron microscope (SEM) to examine materials in the range of isolators, semiconductors and metals — typically semiconducting...”    Vis mer
Totalverdi for anskaffelsen: 4 000 000 💰
Metadata for kunngjøring
Originalspråk: engelsk 🗣️
Dokumenttype: Kunngjøring av konkurranse
Kontraktens art: Varer
Forskrift: Det europeiske økonomiske samarbeidsområdet (EØS), med deltakelse av GPA-land
Felles innkjøpsordliste (CPV)
Kode: Elektronmikroskoper 📦

Prosedyre
Prosedyretype: Åpen anbudskonkurranse
Tilbudstype: Innlevering for alle delkontrakter
Tildelingskriterier
Det mest økonomisk fordelaktige tilbudet

Oppdragsgiver
Identitet
Land: Norge 🇳🇴
Type tildelende myndighet: Offentligrettslig organ
Navn på tildelende myndighet: Universitetet i Oslo, Det matematisk naturvitenskapelige fakultet
Postadresse: Postboks 1032 Blindern
Postnummer: 0315
Poststed: Oslo
Kontakt
E-post: innkjop@admin.uio.no 📧
Telefon: +47 22857092 📞

Referanse
Datoer
Sendt dato: 2016-03-16 📅
Innleveringsfrist: 2016-04-25 📅
Publiseringsdato: 2016-03-17 📅
Identifikatorer
Kunngjøringsnummer: 2016/S 054-091068
OJ-S-utgave: 54
Kilde: OJS 2016/S 054-091068 (2016-03-16)